In‐situ‐Beobachtung,

Das Rastertransmissionselektronenmikroskop (Scanning Transmission Electron Microscope, STEM) verknüpft Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM). Diese Kombination führt zu neuen hochaufgelösten Kontrasten, die harte wie weiche Materialien abbilden. Die STEM erreicht eine subatomare Auflösung.¹ In STEM-Dunkelfeld-Abbildung (High-Angle Annular Dark-Field, HAADF) ist der Bildkontrast umso höher, je unterschiedlicher die Ordnungszahl der beteiligten Elemente ist (Z-Kontrast). In Kombination mit Elektron-Energieverlustspektroskopie (Electron Energy-Loss Spectroscopy, EELS) gestattet die Auswertung der Signale Aussagen darüber, welche Bindungsverhältnisse die einzelnen Atome haben, welches chemische Element sich dahinter verbirgt und in welchem elektronischen Zustand, insbesondere in welcher Oxidationsstufe sich die Atome gerade befinden (Abbildung 1).

Aufbau

Ein STEM-System besteht im Wesentlichen aus einer Elektronenquelle, einem mehrstufigen Kondensorsystem zur Fokussierung des Elektronenstrahls, optional einem Korrektorelement (Cs-Corrector), das die sphärische Aberration des Kondensorsystems korrigiert, Raster-Ab

Blickpunkt