Rezensionen

Breiter Überblick

In-situ Electron Microscopy. Hrsg. von Gerhard Dehm, James M. Howe, Josef Zweck. Wiley-VCH, Weinheim, 2012. 384 Seiten, geb. 129 Euro. ISBN 978—3—527—31973—2

Elektronenmikroskopie dient dazu, Festkörper nanometergenau zu charakterisieren, und das in unterschiedlichen wissenschaftlichen und technologischen Bereichen wie Materialwissenschaften, Nanotechnologie und Biologie. Meist entstehen statische Bilder von Festkörpern im Vakuum, obwohl die meisten Materialien nicht im Vakuum angewendet werden. Für viele Forschungsfragen ist es aber wichtig zu wissen, wie Materialen sich unter realen Bedingen verhalten, und sie auch zeitaufgelöst zu messen. Hier ist die In-situ-Elektronenmikroskopie gefragt. Das neue Buch In-situ Electron Microscopy — Applications in Physics, Chemistry and Materials Science von Gerhard Dehm, James M. Howe und Josef Zweck gibt einen breiten Überblick über dieses aufstrebende Feld der Elektronenmikroskopie.

Die ersten Kapitel schildern ganz allgemein, wie traditionelle Transmissionselektronenmikroskope (TEM) und Rasterelektronenmikroskope funktionieren. Dann folgt die Beschreibung einer Methode, um zeitaufgelöste T

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